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显微光谱测量系统 MicroTEQ-S1

显微光谱测量系统 MicroTEQ-S1

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产品介绍

MicroTEQ-S1显微光谱测量系统,集成荧光、拉曼和反射光谱测量功能。通过把光谱模块集成到显微镜上,实现显微荧光、拉曼和其他光谱信息的测量。系统由光谱仪、激光器、光源、显微镜等部分构成,自由灵活,帮助用户快速对样品微观结构,微观光谱信息的测试和分析;此外系统可以加装二维电控扫描台,通过软件控制,实现光谱二维扫面测量功能。

应用范围

  • 微流控;
  • 植物叶片研究;
  • 激光材料评价;
  • 生物和细胞测试;
  • 光子晶体测试;
  • 珠宝、古籍检测;
  • 纳米材料分析;

拉曼模式

拉曼探头可直接插入显微光谱测试模块中,从而快速实现拉曼光谱测量。支持光谱范围覆盖400-1100nm,仅需通过更换探头和激光器,便可实现488nm、532nm、633nm、785nm激发波长的拉曼光谱测量。

石墨烯532nm扑热息痛785nm

搭配便携式拉曼光谱仪

显微光谱测试模块也能够完美适配ACCUMAN SR 系列科研级便携拉曼,即插即用的工作模式让您不仅可以实现便携的拉曼光谱测量,还可以更方便地在实验室内实现显微拉曼光谱分析。

accuman-Microsteq

其他模式

  • 荧光测量:显微光谱测量模块内部集成了荧光测试光路,通过SMA905光纤接口与荧光激光器和荧光光谱仪连接。其中连接激光器的SMA905接头,可以改装成为自由空间光作为输入光源,从而得到更强的激发功率或更好的光斑质量。模块中带滤光片插槽,可以放置适配不同激发波长的激发滤光片和发射滤光片,实现不同激发波长的显微荧光测量。
  • 颜色和反射测量:使用光纤把钨灯光源和显微光谱测量模块连接起来,共用荧光光路,即可实现显微反射光谱测量和显微颜色测量功能。

二维Mapping:选配二维电动平台,使用操作软件设置面扫描采样, 获取一定范围内的逐点扫描光谱数据,可用于表征材料表面微观结构和光谱成像。同时测试结果还可以通过图像绘制的方式呈现出来。

光谱仪配置拉曼拉曼荧光
光谱仪QEPRO@532nmQEPRO@785nmQEPRO-FL
光谱范围150-4200cm-1@532nm150-2000cm-1@785nm300-1050nm
分辨率~10cm-1@5um狭缝~6cm-1@5um狭缝1.5nm@5um狭缝
信噪比1000:1 
A/D18位 
探测器背照减薄型面阵CCD 
杂散光0.08%@600nm 
线性度>99% 
动态范围85000:1 
暗噪声6RMS@18位 
积分时间8ms-60mins 
激光器LASER-532LASER-785LASER-405LASER-450
激光波长532nm785nm405+/-2nm450+/-2nm
激光功率0-300mW可调0-500mW可调0-200mW可调0-200mW可调
线宽<0.2nm<0.1nm2nm2nm
寿命10000h10000h10000h10000h
拉曼探头RPB-532RPB-785  
OD值OD>6OD>6  
焦距7.5mm7.5mm  
激光输入端光纤100um 
光谱收集端光纤200um 
显微光谱测量模块Micro-S1 
光谱范围:400-1100nm 
显微镜4组平场消色差物镜:5X,10X,20X,50X 
5X,数值孔径:0.15,工作距离:10.8mm 
10X,数值孔径:0.3,工作距离:10mm 
20X,数值孔径:0.45,工作距离:4mm 
50X,数值孔径:0.55,工作距离:7.9mm 
100X,数值孔径:0.8,工作距离:4mm(非标配,可选) 
1/2”CMOS彩色CCD,2048*1536(300万像素) 
载物台面积175mm×145mm,移动范围:76mm×42mm 
二维电控平移台(可选配)一体式二维电控平移台,含控制器; 
行程:50mmx50mm; 
重复定位精度:2um; 
移动分辨率:1um; 

 

光纤光谱仪