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SpectrumTEQ-EL电致发光量子效率测量系统

SpectrumTEQ-EL电致发光量子效率测量系统

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产品介绍

SpectrumTEQ-EL系列电致发光量子效率测量系统,可以针对发光器件的光电特性进行有效测量,系统搭配的QEpro光谱仪为业内公认旗舰系列,具有信噪比、低杂散光等特性,可确保测量结果得准确性;同时,系统配有强大的测试软件,对话框式的软件操作界面让测量过程变得更为简单。

 

测量参数

  • 量子效率
  • 亮度
  • 量子效率随电流密度的曲线
  • 色坐标
  • 辐射通量,光通量
  • 峰值波长

 

应用领域

  • 无机电致发光
  • 有机电致发光
  • 分子薄膜EL器件

 

产品优势

  • 体积小巧:便于灵活使用及运输。
  • 原位测量:可放至手套箱内,实现原位测量
  • 流程化操作:设备无需频繁校准。

 

产品参数

 

系统配置
配置方案 方案1 方案2
光谱仪型号QEPro / QE65Pro(可选)
光谱范围(nm)350-1100
信噪比1000:01:00
分辨率2.5 nm (FWHM)
动态范围85000:1(QEPro单次采集);25000:1(QE65Pro单次采集)
AD位数18-bit(QEPro);16-bit(QE65Pro)
积分球尺寸3.3”1.5”
材质Spectralon
源表Keithley2400
光纤芯径1000um(可更换其他芯径)
校准灯角度2 Pi 型号HL-3-INT-CAL
亮度50 流明功率5W(电功率)
无线遥控 通道数4无遥控
软件SpectrumTEQ-EL专用软件

 

光纤光谱仪