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Sphere-3000 光学元件反射率测量仪

Sphere-3000 光学元件反射率测量仪

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产品介绍

Sphere-3000光学元件反射率测量仪,能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/绝对反射率,适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量,还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
 

仪器特点:

  • CIE颜色测定 X Y色度图,x,y,L,a,b,饱和度,主波长等;
  • 显微测定微小区域的反射率,物镜对焦于被测物微小区域(φ60μm);
  • 消除背面反射光,无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率;

技术参数:

 Sphere-3000(II型)Sphere-3000(III型)Sphere-3000-NIR
探测器Hamamatsu背照式2D-CCDHamamatsu背照式2D-CCD(制冷)Hamamatsu InGaAs探测器(制冷)
检测范围380~1100nm380~1100nm900~1700nm
波长分辨率1nm1nm3nm
信噪比450:11000:110000:1
相对检测误差<0.75%<0.5%<0.5%
被测物再现性±0.1%以下(380nm~410nm)
±0.05%以下(410nm~900nm)
±0.1%以下(380nm~400nm)
±0.05%以下(400nm~900nm)
±0.1%以下
(1000~1650nm)
测定方法与标准物比较测定
单次测量时间<1s
精度0.3nm
被测物N.A0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时)
被测物尺寸直径>1mm 厚度>1mm(使用10×对物镜时)
厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)厚度>0.1mm(使用50×对物镜时)
被测物测定范围约φ100um(使用10×对物镜时) 约φ60um(使用20×对物镜时)
约φ30um(使用50×对物镜时)
设备重量约22kg(光源外置)
设备尺寸300(W)×550(D)×570(H)mm
使用环境水平且无振动的场所;温度:23±5℃;湿度:60%以下、无结露;
操作系统Windows7~Windows10
软件分光反射率、物体颜色、单层膜厚(有干涉条纹)和镀膜(有干涉条纹)折射率测定

 

光纤光谱仪