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Planum-3000 平面光学元件光谱分析仪

Planum-3000 平面光学元件光谱分析仪

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021-62956600
产品介绍

Planum-3000平面光学元件光谱分析仪用于快速测量各类平面光学元件的反射、透射光谱,可进行多角度绝对反射率、相对反射率、透射率测量,偏振光测量,膜性测量,颜色测量等。

 

仪器特点:

自定义多角度透反射测量

 

测量对象:
 

  
       棱镜                            平行平板、平晶
 
  
     滤光片                             红外截止片
 

技术参数:

型号
Planum-3000
探测器
Hamamatsu背照式CCD阵列
检测范围
380-1100nm
波长分辨率
1nm
信噪比(全信号)
1000:1
相对检测误差
<0.2%(410-900nm)
操作方式
自动
角度分辨率
<0.0002°
重复定位精度
<0.005°
旋转最大速度
25°/s
透射测量角度
0-80°(小样品0-50°)
反射测量角度
5-80°
单次测量时间量
<1s
S/P光测量
支持
样品尺寸
>Φ3mm
操作系统/接口
Windows7~Windows10/ USB2.0
电源/功率
220V-50HZ /100W
其它
可自定义打印报表格式,开放式光学材料数据库

 

光纤光谱仪