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TMS 透过率测量仪

TMS 透过率测量仪

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产品介绍

TMS透过率测量仪能快速准确地测量各类平面、球面、非球面等光学元件的透过率,可用于实时显示单、多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据。适用于手机盖板IR孔、棱镜、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面、球面非球面光学元件及组合镜头等的检测。

 

仪器特点:

  • 检测范围广:球面、非球面、塑料制品散透射等测量
  • 测试速度极快,1秒出结果,实现产品全检
  • 极小样品的透过率检测

测试对象:

  • 手机IR孔
  • 光学元件
  • 太阳眼镜
  • 漫、散射塑料片

技术参数:

型号
TMS (I型)
TMS (Ⅱ型)TMS (III型)
探测器
Sony线形CCD阵列
Hamamatsu背照式2D-CCD
Hamamatsu背照式2D-CCD
检测范围

380-1000nm(TMS-UV:200-850nm)

380-1100nm(TMS-UV:200-1100nm)360-1100nm(TMS-UV:225-1000nm)
信噪比(全信号)250 : 1 450 : 1 1000 : 1
相对检测误差<0.6%(410-900nm)<0.4%(410-1000nm)  <0.2%(410-1000nm)
检出限0.1%0.05%0.01%
CCD制冷未制冷未制冷-20℃
单次测量时间<1s  
样品尺寸≥Φ1.5mm (显微:≥0.8mm)  
光斑可调,≥ Φ0.6mm(显微≥0.3mm)  
操作系统/接口
Windows7~Windows10/ USB2.0
 
电源/功率220V-50HZ /6W  
 
 
 
光纤光谱仪