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TMS-PRO 透过率测量仪

TMS-PRO 透过率测量仪

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产品介绍

TMS-PRO和TMS-D能快速准确地测量各类手机及Pad面板的透过率,可用于同一面板多个小孔测量,实时显示单、多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据、实时显示半透波长及透过率等。

     

TMS-PRO(单通道)                    TMS-D(双通道)    

仪器特点:

  • 采用大角度采集全穿透式测量
  • 采用数字视频对焦,使微小区域实现精准测量
  • 实时显示测量样品关注波长位置的透射率数据及半透波长检测,自动调整显示坐标范围,可对批量样品进行高效检测及谱图对比分析
  • 可自定义测量方案,设置判定标准,自动判定“OK”和“NG”,使检测更快速,结果更准确
  • 高性能探测器,单次测量小于1秒,重复性高
  • 可对多孔进行快速测量
  • 最小测量孔径可达φ0.3mm

应用范围:

  • 手机面板IR孔、隐藏孔、雾化孔、闪光灯孔透过率测量
  • 弧形边IR孔、镀膜镜、胶合镜、平行平板透过率测量
  • 太阳膜、滤光片光学元件透光测量

功能特点:

  

     可测双孔定位             可调极小样品检测          样品平台可XY微调

数字相机视频对焦

 

智能化出结果

 
智能化和人性化的软件操作 

实时显示测量样品指定波长位置的透射/反射数据,有效测量批量样品并确定质量检测结果。

 质量检验   

用户可以自定义质量检测项目,实时检测和判断任何波长的数据,并显示OK或NG,使检测更快,操作更方便。

技术参数:

型号
TMS-PRO
TMS-D-Ⅰ
TMS-D-Ⅱ
测量系统全光谱全光谱全光谱
检测器Hamamatsu薄型背照式CCDSony线形CCD 阵列Hamamatsu薄型背照式CCD
检出限0.05%0.1%
0.05%
光度准确性0.5%0.5%0.5%
光度重复性0.2%(420~950nm)0.5%(420~950nm)0.2%(420~950nm)
波长检测范围380-1100nm380-1000nm380-1100nm
信噪比(全信号)450:1250:1450:1
波长重复率0.1nm 
样品测试平台X、Y轴可调 
光源高功率卤素光源 
光斑直径>0.2~1mm(可选) 
样品大小≥0.3mm
测量时间  <0.2s 
对焦方式数字相机视频对焦 
物镜10X 
软件 Qspec Suite V1.0,可显示单、多点波长数据,可手动和自动保存数据,自动统计所测产品批号总数、良品、不良品的数量及百分比并以报表的形式一键导出,超差报警提示,可根据用户标准校准机差。
操作系统/接口
Windows 7~Windows 10/USB2.0

 

光纤光谱仪